海達(dá)儀器高低溫試驗(yàn)箱的制造標(biāo)準(zhǔn)

更新時(shí)間：2010-05-10

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GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
　　GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
　　GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
　　GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

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